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Das Wirbelstromverfahren

Die Messsysteme arbeiten nach dem Prinzip des Wirbelstrom-Effektes. Dabei wird ein hochfrequentes Magnetfeld erzeugt und die Messprobe in das Magnetfeld gebracht.
Das elektrisch leitfähige Material wirkt auf den Schwingkreis wie eine ohmsche Last und führt damit zu einer Verminderung der Leistungsaufnahme im Schwingkreis.
Es wird nun die Differenz der Leistung bestimmt, die nach Erkenntnissen von Miller (G.L. Miller, D.A.H. Robinson, and J.D. Wiley, "Contactless measurement of semiconductor conductivity by radio frequency-free-carrier power absorption", Rev. Sci. Instrum., Vol. 47 (1976)) proportional zum Leitwert im Material ist. Bei hinreichender Dicke des Materials entspricht der Wert dem spezifischen Leitwert (reziprok, dem spezifischen Widerstand) des Materials. Wenn das Material dünn gegen die Wirkung des hochfrequenten Magnetfeldes wird, kann sich der Wirbelstrom nicht ungehindert ausbilden und der Effekt wechselt in einen Flächenbezug und damit zu einem Flächenleitwert.
 

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